Warsztaty: Inspekcja wizyjna jako dokładny, szybki i tani system pomiarowy?

Warsztaty poświęcone tworzeniu koncepcji, analizie opłacalności oraz metodologii konstruowania systemów wizyjnych

W 8 miastach, od 28 maja do 6 czerwca 2012 National Instruments oraz CIT Engineering zapraszają na prezentację i warsztaty poświęcone tworzeniu koncepcji, analizie opłacalności oraz metodologii konstruowania systemów wizyjnych.

Podczas prezentacji zostaną omówione:

1. Tworzenie poprawnej koncepcji systemu wizyjnego i prowadzenie projektu.
2. Szacunkowe koszty systemów wizyjnych.
3. Analizę opłacalności w przemyśle i badaniach naukowych.
4. Komponenty systemów wizyjnych i kryteria ich doboru (od prostych i tanich do zaawansowanych układów):
   • sprzęt do akwizycji oraz przetwarzania obrazu,
   • oprogramowanie i platformy systemowe,
5. Technologie innowacyjne:
   1. przełamanie bariery czasu przetwarzania sygnału wizyjnego dzięki wykorzystaniu układów FPGA,
   2. streaming bardzo szybkich sygnałów wizyjnych z wykorzystaniem macierzy RAID,
   3. metody integracji systemu wizyjnego z pozostałymi elementami automatyki i pomiarów.

Sesja warsztatowa obejmie:

Źródło: NI.com